4月17日的Home报道说，日本的TDK在当地第15次宣布，它在全球范围内成功开发了其第一个“旋转光电探测器”，声称其响应延迟仅为20 picseconds（主页注：0.02纳米秒，2×10-11秒），其速度为十倍传统的半导体光电孔照射器。 TDK表示，此自旋光检测器使用单晶基板MTJ磁性隧道部分技术，用于数十亿个硬盘头。半导体光电探测器的物理局限性较短。同时，MTJ结构具有良好的抗颜色辐射能力，适合于航空航天照明。 TDK的自旋光检测器是一种光学自旋电子转换装置，结合了光学，电气和磁性组件，可支持从可见光到紧密红外光线的操作WaleLengths，预计将用于XR智能玻璃，图像传感器，高速光学C，高速光学C传达和光学互连。
